توضیحات

دستگاه اسپکتروفتومتر UV-2600i Shimadzu

دستگاه اسپکتروفتومتر  UV-2600i Shimadzuشیمادزو ژاپن single monochromator

دستگاه اسپکتروفتومتر  UV-2700i Shimadzuشیمادزو ژاپن Double monochromator

دستگاه اسپکتروفتومتر  UV-2600i Shimadzuجمع و جور (UV-2700i) یک اسپکتروفتومتر UV میان رده است که می تواند در طیف وسیعی از زمینه ها مورد استفاده قرار گیرد و به آسانی متناسب با اهداف آنالیز شما گسترش یابد.

استفاده از نرم افزار Shimadzu LabSolutions UV-Vis ساده است و می تواند یکپارچگی داده ها را تضمین کند.

دستگاه اسپکتروفتومتر  UV-2600i Shimadzuیک سیستم تک منوکروماتور single monochromator  است که محدوده طول موج آن را می توان به راحتی با استفاده از کره یکپارچه اختیاری تا ناحیه مادون قرمز نزدیک 1400 نانومتر گسترش داد.

دستگاه اسپکتروفتومتر  UV-2700i Shimadzuشیمادزو یک سیستم Double monochromator است که قادر به اندازه گیری 8 Abs است. برای اندازه گیری نمونه هایی با ضریب انتقال کم low transmittance بهینه است.

مزایا دستگاه اسپکتروفتومتر  UV-2600i & UV-2700i Shimadzuشیمادزو ژاپن :

• ایده آل برای طیف گسترده ای از برنامه های کاربردی
• عملکرد ارزیابی طیفی Spectral evaluation ، unique pass/fail judgment منحصربه‌فرد را برای کنترل کیفیت ممکن می‌سازد.
• در طول اندازه‌گیری، داده‌ها می‌توانند به‌طور خودکار به اکسل ارسال شوند تا از ماکروها برای به دست آوردن خودکار مقادیر دلخواه استفاده شود.
• تفاوت های جزئی در جذب Absorbance را اندازه گیری می کند
• نور مادون قرمز نزدیک Near-infrared را می توان اندازه گیری کرد.
• نور سرگردان بسیار کم Ultra-low stray light  اندازه گیری را تا مقادیر جذب  8 Abs امکان پذیر می کند.
• انطباق با مقررات ER/ES و مدیریت داده قوی تر را فعال می کند.
• قابل تنظیم به عنوان سیستمی برای جلوگیری از دستکاری داده ها.
• به طور موثر از دستکاری داده ها از کل سری مراحل فرآیند آنالیتیکال جلوگیری می کند.

مقیاس پذیری به اندازه گیری نزدیک به مادون قرمز near-infrared

یکی از ویژگی های کلیدی دستگاه اسپکتروفتومتر  UV-2600i Shimadzuشیمادزو ژاپن محدوده طول موج اندازه گیری آن است.

 با استفاده از آپشن ISR-2600Plus Integrating Sphere، محدوده طول موج اندازه گیری را می توان از 220 نانومتر به 1400 نانومتر افزایش داد و کاربردهای آن را به طور قابل توجهی گسترش داد.

دستگاه اسپکتروفتومتر UV-2600i Shimadzu همچنین به grade diffraction grating Lo-Ray-Ligh اختصاصی Shimadzu مجهز شده است که بازدهی بالا و سطوح نور سرگردان low stray کم را به دست می آورد.

با نصب ISR-2600Plus two-detector integrating sphere , محدوده طول موج 300 تا 1100 نانومتر مدل های معمولی را می توان تا 1400 نانومتر افزایش داد.

 علاوه بر این، UV-2600i به کاهش قابل توجه نویز دست می یابد و می تواند اندازه گیری فیلم های ضد انعکاس سل خورشیدی و ویفرهای wafers سیلیکونی پلی کریستالی را در خود جای دهد.

تفاوت های جزئی در جذب را اندازه گیری می کند

دستگاه اسپکتروفتومتر  UV-2700i Shimadzuشیمادزو ژاپن Double monochromator که سطوح نور سرگردان بسیار کم را به دست می‌آورد، برای اندازه‌گیری نمونه‌های با ضریب عبور کم، مانند فیلم‌های پلاریزاسیون مورد استفاده برای پانل‌های LCD، بهینه است.

 UV-2700i قادر به اندازه گیری 8 Abs است و می تواند اندازه گیری های دقیق گذر را تا 1 قسمت در 100 میلیون انجام دهد و انواع اندازه گیری های نمونه را در خود جای دهد.

در مورد دستگاهی مجهز به منوکروماتور دوتایی عمومی، جذبی که می توان پوشش داد حدود 5 تا 6 است، اما UV-2700i محدوده ای تا 8 Abs با مقدار عبور 0.000001 % (1 قسمت در 100 میلیون) ارائه می دهد. ).

 این سیستم اندازه گیری جذب سطح بالایی را با دقت غیر قابل مقایسه به دست می آورد.

علاوه بر اندازه‌گیری حتی نمونه‌های با غلظت بالا، که نیاز به رقیق‌سازی نمونه‌ها را حذف می‌کند، می‌توان از این سیستم برای ارزیابی ویژگی‌های انتقال فیلم‌های پلاریزاسیون استفاده کرد.

طول موج در محدوده 400 نانومتر تا 650 نانومتر را می توان تا 8 Abs اندازه گیری کرد.

کاربرد دستگاه اسپکتروفتومتر  UV-2600i & UV-2700i Shimadzuشیمادزو ژاپن :

• برق، الکترونیک و اپتیک
• اندازه گیری جذب سطح بالا برای فیلم های پلاریزه
• اندازه گیری بازتاب مطلق Absolute reflectance برای فیلم های ضد بازتاب anti-reflective films
• اندازه گیری انتقال Transmittance برای فیلم های عملکردی
• اندازه گیری های انتقال Transmittance برای شیشه های پوشش سلول خورشیدی
• اندازه گیری فاصله باند و بازتاب منتشر Band gap measurements and diffuse reflectance
• اندازه گیری مواد نیمه هادی
• اندازه گیری انعکاس مطلق برای آینه های بسیار بازتابنده highly reflective mirrors
• مواد شیمیایی
• اندازه گیری ضریب عبور و بازتاب Transmittance and reflectance measurements برای انواع مختلف فیلم
• اندازه گیری ضخامت لایه نازک Thin film thickness
• اندازه گیری های انتقال پلاستیک، اندازه گیری بازتاب،
• اندازه گیری رنگ color measurements
• داروها، آرایشی و بهداشتی، و زیستی life science
• تست های تایید مواد اولیه Raw material confirmation tests
• اندازه گیری واکنش آنزیمی
• کمیت پروتئین و اسید نوکلئیک
• اندازه گیری رنگ آرایشی و اندازه گیری غربالگری اشعه ماوراء بنفش
• ارزیابی خواص نوری نانوذرات
• محیط زیست
• کمی سازی کروم شش ظرفیتی
• کمی سازی کل فسفر و نیتروژن کل
• در آب رودخانه ها، دریاچه ها و مرداب ها
• اندازه گیری کدورت
• اندازه گیری مقدار آهن، مس، آرسنیک، آمونیاک،
• و سایر مواد موجود در آب
• ساخت و ساز Construction
• اندازه گیری های انتقال Transmittance برای شیشه های پنجره و فیلم های شیشه پنجره
• اندازه گیری انعکاس Reflectance برای رنگ ها و مصالح ساختمانی
• منسوجات
• اندازه گیری ضریب عبور و بازتاب transmittance and reflectance نساجی،
• و اندازه گیری غربالگری اشعه ماوراء بنفش
• اندازه گیری رنگ پارچه
• ارزیابی نانوالیاف سلولزی (CNF)
• غذاها
• کمیت ویتامین ها، افزودنی های غذایی و مواد معدنی
• کمیت فنل های شسته شده از ظروف و عوامل بسته بندی
• ارزیابی کروموتروپیسم با اسپکتروفتومتر: Solvatochromism و Thermochromism
• ارزیابی چندوجهی پلاستیک: تفاوت‌های ناشی از شرایط ورز دادن Kneading Conditions
• ارزیابی چندوجهی پلاستیک: تفاوت‌های ناشی از نسبت ترکیب رزین PC/ABS
• راهنمای راه حل درمانی الیگونوکلئوتیدی
• اندازه گیری انتقال طیفی ظروف دارویی
• محاسبات تنظیمی با استفاده از تابع ارزیابی طیفی: ارزیابی لنزهای عینک همانطور که توسط JIS T7333 مشخص شده است
• ارزیابی پایداری حرارتی Thermal Stability (Tm) و خواص ترمودینامیکی داروهای نوکلئیک اسید
• ارزیابی میزان عبور اشعه ماوراء بنفش (باند C) برای گندزدایی Disinfection
• ارزیابی UPF محصولات پارچه ای مانند ماسک های کاربردی
• اندازه‌گیری طیف بازتاب منتشر مواد ترموکرومیک با استفاده از UV-Vis DiffusIR™
• تفاوت در محدوده غلظت قابل اندازه گیری طیف سنج UV-Vis و اسپکتروفتومتر فلورسانس – تجزیه و تحلیل اسپکتروفتومتری
• ارزیابی پراکندگی نانوالیاف سلولزی فردی (CNF) – آنالیز اسپکتروفتومتری
• سیستم ارزیابی LiDAR: اندازه گیری گذردهی Bandpass Filters- آنالیز اسپکتروفتومتری
• سیستم ارزیابی LiDAR – اندازه گیری ضریب عبور/بازتاب Transmittance/Reflectance مواد نوری
• ارزیابی طیف گذر/انعکاس فیلم های چند لایه دی الکتریک – با استفاده از یک واحد اندازه گیری زاویه متغیر – – آنالیز اسپکتروفتومتری
• نمونه های اندازه گیری نمونه های کوچک و مناطق کوچک – استفاده از نگهدارنده نمونه میکرو و واحد لنز پرتو میکرو – – آنالیز اسپکتروفتومتری
• رابطه بین توزیع اندازه ذرات/شکل ذرات Particle Size Distribution/Particle Shape و خواص نوری نانوذرات طلا – تجزیه و تحلیل اسپکتروفتومتری
• مقایسه پوشش لایه نازک بین طیف‌سنج‌های UV-2600 و SolisSpec-3700 UV-Vis-NIR
• طیف بازتاب کامل مطلق اجسام بسیار کوچک با استفاده از کره یکپارچه ISR-2600Plus
• تجزیه و تحلیل رنگ شربت افرا با استفاده از Shimadzu UV-2600 UV-Vis
• معرفی نرم افزار ماکرو مبتنی بر UPF Excel
• اندازه گیری ضریب حفاظت از اشعه ماوراء بنفش Violet Protection Factor اختصاص داده شده به لباس های محافظ در برابر اشعه ماوراء بنفش
• اندازه گیری Band Gap اکسید تیتانیوم (IV) – آنالیز اسپکتروفتومتری
• معرفی نرم افزار اعتبار سنجی Validation Software عملکرد برای بهبود پشتیبانی GLP/GMP
• اندازه گیری طیف انتشار برای لامپ LED توسط طیف سنج UV-2600 UV-VIS
• ارزیابی فیلم ضد انعکاس Anti-Reflective Film روی سل خورشیدی با استفاده از UV-2600 – بازتاب و اندازه‌گیری رنگ – Reflectance and Color Measurement
• معرفی اسپکتروفتومتر UV-Visible Shimadzu UV-2700 برای اندازه گیری جذب بالا
• تجزیه و تحلیل پایداری حرارتی داروهای اسید نوکلئیک توسط سیستم آنالیز جدید Tm

برق، الکترونیک و اپتیک

اندازه گیری Band Gapبرای نیمه هادی های مرکب

طیف بازتاب منتشر diffuse reflection  برای دو نوع نیمه هادی مرکب

 (خط قرمز: Culn0.5Ga0.5Se2،

 خط آبی: CulnSe2) استفاده شده به عنوان مواد سلول خورشیدی با استفاده از کره یکپارچه ISR-2600Plus اندازه گیری شده است.

 بدیهی است که لبه جذب absorption edge (موقعیت افت بازتاب position where the reflectance drops) بسته به نمونه متفاوت است.

 این تفاوت نشان دهنده تفاوت در شکاف نواری band gap برای این نمونه ها است.

شکاف باند برای نمونه ها با استفاده از روش Tauc محاسبه شد.

 نتایج به دست آمده 1.27 eV برای Culn0.5Ga0.5Se2 (خط قرمز) و 0.99 eV برای CulnSe2 (خط آبی) بود.

 اصطلاح شکاف نواری band gap به اختلاف انرژی بین بالای نوار ظرفیتی که پر از الکترون است و پایین نوار رسانایی که حاوی الکترون نیست اشاره دارد.

دستگاه اسپکتروفتومتر UV-2600i Shimadzu

دستگاه اسپکتروفتومتر  UV-2600i Shimadzuشیمادزو ژاپن single monochromator

دستگاه اسپکتروفتومتر  UV-2700i Shimadzuشیمادزو ژاپن Double monochromator

دستگاه اسپکتروفتومتر شیمادزو, دستگاه اسپکتروفتومتر UV-2600i, UV-2700iشیمادزو, UV-2600i شیمادزو,