توضیحات

دستگاه XRF مدل Epsilon 4

دستگاه XRF مدل Epsilon 4 ساخت کمپانی Malvern PanAnalytical

دستگاه طیف سنج فلوئورسانس و آنالیز عنصری XRF مدل Epsilon 4 ساخت کمپانی Malvern PanAnalytical

دستگاه XRF مدل Epsilon 4 توانایی آنالیز از عنصر کربن C ( 6 جدول تناوبی ) تا عنصر Americium  به اختصار Am  ( 95 جدول تناوبی ) را دارد.

دستگاه XRF مدل Epsilon 4 توانایی آنالیز رنج غلظت از زیر PPm تا 100% وزنی را دارد.

Measurement type

Thin film metrology

Elemental analysis

Contaminant detection and analysis

Elemental quantification

Elemental range

F-Am

LLD

 ppm – 100% 

Sample throughput

Up to – 160per 8h day

Fast and sensitive : over 1,500,000 cps

مزایا دستگاه XRF مدل Epsilon 4 ساخت کمپانی Malvern PanAnalytical :

• توانایی آنالیز از عنصر کربن C ( 6 جدول تناوبی ) تا عنصر Americium  به اختصار Am ( 95 جدول تناوبی )

• حد تشخیص از 1 PPm تا 100%
• دارای جایگاه 10 عددی نمونه
• توانایی آنالیز نمونه با قطر 52 میلی متری
• Spinner برای دقت بیشتر در تجزیه و تحلیل فیلتر هوا گنجانده شده است
• Large Sample Mode برای نمونه های بزرگتر تا ارتفاع 10 سانتی متر
• دارای تیوب ایکس ری متال – سرامیک برای حداکثر ثبات
• برلیوم نازک 50 میکرومتر برای حساسیت بالا برای عناصر نوری (Na ، Mg ، Al ، Si)
• لوله اشعه ایکس آند نقره Ag برای بهترین عملکرد آنالیز فسفر , سولفور و کلر P ، S و Cl
• High-resolution silicon drift detector (SDD), typically 135 eV @ Mn-Kα
• Max count rate of 1,500,000 counts/s at 50% dead time
• Thin-entrance detector window for high sensitivity
• دارای آنالیز PASS/FAIL
• توانایی آنالیزانواع مختلفی از نمونه ها شامل جامدات ، پودرهای فشرده و سست ، مایعات و فیلترها

کاربرد دستگاه XRF مدل Epsilon 4 ساخت کمپانی Malvern PanAnalytical :

• معدن و مواد معدنی

• روغن ها و سوخت ها
• روشها و مقررات بین المللی آزمون ، مانند TIER 3 ، ISO 13032 ، ISO 20847 ، ISO 8754 ، ASTM D4294 ، ASTM D4929 ، JIS K2541-4 ، IP 336 و IP 496.
  

• تجزیه و تحلیل محتوای گوگرد یا سولفور در طول تولید و مخلوط کردن سوخت
• آنالیز دقیق آهن , کلسیم , وانادیم , نیکل و سولفور S ، Ni ، V ، Ca و Fe برای افزایش عمر کاتالیزورها و بهبود عملکرد آنها
• تعیین سطوح پایین کلر برای نمک زدایی مطلوب و کنترل خوردگی
• تجزیه و تحلیل عنصری نفت خام برای بهینه سازی و تطبیق فرآیندهای پالایشگاهی
• آنالیز روغن و روان کننده ها مطابق با ASTM D7751 and ASTM D6481
• آنالیز ترکیبات دارویی و آرایشی  ICH Q3D, USP<232>, USP<233> and USP<735>
• غذا و محیط زیست
• کنترل مواد مغذی موجود در خوراک دام برای سالم نگه داشتن گاو و به حداقل رساندن گازهای گلخانه ای کودهای گلخانه ای
• مصالح ساختمانی
• صنعت سیمان
• کنترل کیفیت برای تجزیه و تحلیل عناصر مواد اولیه
• پلیمرهای پلاستیکی و رنگ
• برای افزودنی ها و بقایای کاتالیزور (ADPOL) ، عناصر سمی (TOXEL) و اطمینان از مطابقت RoHS (RoHS) مطابق با ASTM F2617 و IEC 62321-3-1.

دستگاه XRF مدل Epsilon 4  می تواند در کنار خط تولید در هر نقطه از فرآیند شما قرار گیرد.

  عملکرد بالای دستگاه XRF مدل Epsilon 4 باعث می شود اکثر برنامه ها در شرایط محیطی کار کنند و هزینه های نگهداری از هلیوم یا خلاء را کاهش دهد.

از Omnian برای آنالیز بدون استاندارد standardless  استفاده کنید

 در مواقعی که سرعت آنالیز اهمیت دارد از FingerPrint برای آزمایش مواد ( تست متریال ) استفاده کنید

یا از Stratos برای انالیز سریع ، ساده و غیر مخرب پوشش ها ، لایه های سطحی و ساختارهای چند لایه استفاده کنید.

  همچنین می توان از Enhanced Data Security که مطابق با مقررات مانند FDA 21 CFR Part 11 است پشتیبانی کرد

 یا از Oil-Trace برای تعیین مخلوط fuel-biofuel زیستی به روغن های روان کننده تازه و روغن های روان کننده استفاده شده استفاده کرد.

آماده برای هر نوع نمونه – دستگاه XRF مدل Epsilon 4

دستگاه XRF مدل Epsilon 4 توانایی آنالیزانواع مختلفی از نمونه ها شامل جامدات ، پودرهای فشرده و سست ، مایعات و فیلترها را  دارد.

این دستگاه تجزیه و تحلیل کمی غیر مخرب عناصر از کربن (C) فلورین تا آمریکیوم (Am) را در غلظت های 100٪ تا سطوح زیر ppm ، روی نمونه هایی با وزن از چند میلی گرم تا کیلوگرم انجام می دهد.

Epsilon 4 یک جایگزین قوی و قابل اعتماد برای سیستم های معمولی برای صنایع مختلف و کاربردهای مختلف است ، حتی اگر تجزیه و تحلیل عناصر سبک از اهمیت فوق العاده ای برخوردار باشد ، از جمله: تولید سیمان ، معدن ، استفاده از مواد معدنی ، آهن ، فولاد و فلزات غیر آهنی ، غربالگری و اندازه گیری RoHS ، نفت و پتروشیمی ، پلیمرها و صنایع وابسته ، تولید شیشه ، پزشکی قانونی ، داروها ، محصولات مراقبت های بهداشتی ، محیط زیست ، مواد غذایی و لوازم آرایشی.

امکانات

تنظیمات انعطاف پذیر

دستگاه XRF مدل Epsilon 4 یک دستگاه طیف سنج فلوئورسانس و آنالیز عنصری  تحلیلی بسیار انعطاف پذیر است که در نسخه 10 واتی برای تجزیه و تحلیل عناصر (F-Am) در مناطق از R&D تا کنترل فرآیند موجود است.

  برای کارایی نمونه بیشتر یا قابلیت های آنالیز عناصر سبک و در محیط های چالش برانگیز ، نسخه 15 واتی در دسترس است که حتی می تواند کربن ، نیتروژن و اکسیژن را آنالیز کند.

Latest developments

دستگاه XRF مدل Epsilon 4 جدیدترین فناوری های تهیج excitation  و تشخیص را با نرم افزار تجزیه و تحلیل پیشرفته ترکیب می کنند.

تیوب اشعه ایکس 15 واتی در ترکیب با جریان زیاد (3 میلی آمپر) ، جدیدترین دتکتور سیلیکون SDD30 به همراه طراحی فشرده مسیر نوری ، حتی عملکرد تحلیلی بهتری را نسبت به یک دستگاهEDXRF   50 واتی و حتی XRF رومیزی WDXRF  با بهره وری اضافی  ارائه می دهد.

Fast and sensitive

اندازه گیری سریع با استفاده از جدیدترین فناوری آشکارساز سیلیکون انجام می شود که شدت قابل توجهی را تولید می کند.

دستگاههای الکترونیکی آشکارساز منحصر به فرد ظرفیت شمارش خطی را به بیش از 1،500،000 cps (at 50% dead time) و میزان شمارش وضوح مستقل معمولاً بهتر از 135 eV برای تفکیک بهتر خطوط تحلیلی در طیف می کند.

این امر به طیف سنج فلورسانس ایکس ری اپسیلون 4 اجازه می دهد تا با قدرت کامل کار کند و بنابراین حجم نمونه بسیار بالاتری را در مقایسه با دستگاههای سنتی EDXRF رومیزی متوجه می شود.

Reduce helium consumption

عملکرد بالای اپسیلون 4 بسیاری از برنامه ها را قادر می سازد تا در اتمسفر هوا ، بدون زمان سربار طولانی تر و هزینه های مربوط به هلیوم یا نگهداری سیستم خلاء کار کنند.

هنگام اندازه گیری در هوا ، فوتون های اشعه ایکس کم انرژی که مشخصه سدیم ، منیزیم و آلومینیوم هستند به تغییرات فشار و دمای هوا حساس هستند.

سنسورهای Built-in temperature and air-pressure sensors دما و فشار هوا این تغییرات محیطی را جبران کرده و نتایج عالی را در هر شرایط آب و هوایی تضمین می کند.

Thin film metrology

مترولوژی فیلم نازک شامل استفاده از محاسبات ریاضی برای حضور و ضخامت پوشش هایی است که با استفاده از فرایندهای مختلف بر روی یک ماده بستر رسوب کرده اند.

مترولوژی اشعه ایکس یک ابزار ایده آل برای تجزیه و تحلیل فیلم نازک در توسعه و تولید انبوه انواع مختلف دستگاههای میکرو و اپتوالکترونیکی با ساختار لایه است.

تکنیک های اندازه گیری اشعه ایکس با پیشرفت در صنعت از طریق توسعه برنامه ها و فناوری های جدید مبتنی بر لایه ادامه داده است و همچنان به عنوان ابزارهای ضروری از مرحله تحقیق و توسعه از طریق تولید آزمایشی تا تولید خودکار کامل دستگاههای نیمه هادی عمل می کند.

راه حل های آنالیز فیلم نازک – Thin film analysis solutions

دستگاههای طیف سنجی اندازه گیری بر اساس روش های اشعه ایکس ، مانند XRD ، XRR و XRF ، ثابت کرده اند که دسترسی سریع ، غیر مخرب ، قابل اعتماد و دقیق به پارامترهای مهم فیلم نازک از لایه های بسیار نازک منفرد تا پشته های پیچیده چند لایه from ultra-thin single layers to complex multilayer stack را فراهم می کنند.

Contaminant detection and analysis

شناسایی و درک مسائل مربوط به فرآیند و اطمینان از کیفیت و ایمنی محصول

آلودگی Contamination  می تواند برای کیفیت محصول و کارایی فرآیند مضر باشد و همچنین می تواند نگرانی های جدی برای سلامت عمومی یا ایمنی محیط زیست ایجاد کند.

بنابراین ، سطوح عناصر خطرناک در کالاهای الکترونیکی و محصولات مصرفی توسط مقررات ایمنی و بهداشت محدود شده است.

  آلاینده ها یا ذرات خارجی از طیف وسیعی از منابع ، از جمله قطعات پوسیده یا آسیب دیده تجهیزات ، کاتالیزورها ، آلودگی متقابل یک فرآیند ، بسته بندی یا حتی از منشأ بیولوژیکی ناشی می شوند.

تشخیص آلودگی ، شمارش و در برخی موارد شناسایی آلاینده ها ، مسائل مربوط به فرایند را مشخص می کند و به اطمینان از ایمنی و کیفیت محصول کمک می کند.

دستگاه طیف سنج اتمی فلوئورسانس XRF راه حل هایی برای تجزیه و تحلیل آلاینده ها ارائه می دهد که به شما کمک می کند تا فرآیندها و محصولات خود را درک کرده و بر آنها نظارت داشته باشید

  دستگاه طیف سنج فلوئورسانس و آنالیز عنصری XRF در طیف وسیعی از صنایع از جمله علوم پزشکی قانونی ، تصفیه آب ، تولید مواد افزودنی ، داروسازی و داروهای زیستی ، مصالح ساختمانی ، غذا و نوشیدنی ها ، سوخت ها و مواد شیمیایی مورد استفاده قرار می گیرند.

Elemental quantification

تعیین غلظت عناصر با استفاده از XRF و PFTNA

در بسیاری از کاربردها ، دانستن غلظت عنصر یک عامل مهم در کنترل خواص مواد یا اطمینان از رعایت مقررات ایمنی و بهداشت است.

  بنابراین ، اغلب به سادگی تشخیص وجود عناصر کافی نیست ، بلکه باید غلظت آنها را نیز کمی کرد. میزان دقت مورد نیاز بستگی به کاربرد دارد.

فلورسانس اشعه ایکس XRF تکنیک تحلیلی غیر مخرب ، پایدار و آسان برای تعیین ترکیب عنصری مواد مختلف در طیف وسیعی از کاربردها هستند.

برای تعیین غلظت عناصر با این تکنیک ها ، شدت های اندازه گیری شده با شدت از مواد مرجع معتبر یا استانداردهای داخلی با غلظت های مشخص مقایسه می شود.

 این استانداردها باید تا حد ممکن به مواد نمونه شباهت داشته باشند تا نتایج دقیق به دست آید.

شدتهای اندازه گیری شده نیز تحت تأثیر خواص فیزیکی نمونه قرار می گیرند و بنابراین اغلب باید اصلاحات مختلفی اعمال شود که توسط نرم افزار کاربر مورد توجه قرار می گیرد.

در بسیاری از صنایع ، غربالگری سریع مواد نمونه با ترکیب ناشناخته بدون داشتن استانداردهای اختصاصی مورد نیاز است.

در چنین مواردی ، از نرم افزارهای تجزیه و تحلیل استاندارد مانند Omnian می توان برای تعیین ترکیب کلی عنصر و ارائه مقادیر نیمه کمی غلظت عناصر استفاده کرد.

مزایای دستگاه XRF نسبت به دستگاه جذب اتمی و ICP

هزینه های جاری کم

دستگاه XRF مانند ICP و AAS نیازی به استفاده از اسیدهای گران قیمت ، گازها و بخارات ندارد.

  تنها مورد نیاز برق اصلی و در برخی موارد استفاده از هلیوم برای افزایش حساسیت به عناصر سبک در نمونه است.

همچنین اجزای منفرد در طیف سنج های XRF در معرض اصطکاک یا گرما قرار نمی گیرند و بنابراین سالهای زیادی دوام می آورند.

آنالیز غیر مخرب

اندازه گیری با دستگاه XRF مستقیماً روی پودرهای سست یا محصولات نهایی انجام می شود ، بدون این که نمونه ای از آن تهیه شود.

  از آنجا که XRF یک تکنیک غیر مخرب است ، در صورت لزوم می توان نمونه را بعداً با سایر تکنیک های تحلیلی اندازه گیری کرد.

نمونه های قابل آنالیز با دستگاه XRF مدل Epsilon 4 ساخت کمپانی Malvern PanAnalytical :

• مواد جامد
• پودرهای فشرده
• پودرهای سست
• مایعات
• مهره های ذوب شده Fused beads
• دوغاب
• گرانول ها
• فیلترها
• فیلم و روکش coatings

  

کلیدواژه : دستگاه xrf ,دستگاه فلورسانس ایکس ری,قیمت دستگاه xrf,خرید دستگاه xrf,فروش دستگاه xrf,نمایندگی فروش دستگاه xrf,فلوئورسانس اتمی,دستگاه ایکس ری, مزایای دستگاه XRF نسبت به دستگاه جذب اتمی و ICP, آنالیز غیر مخرب,xrf, مترولوژی فیلم نازک,انالیز سیمان xrf,انالیز معدن و کانی xrf,